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發(fā)布時間:2024-09-11作者來源:薩科微瀏覽:1861
最近讀者提問:“6寸晶圓用平邊,8/12寸晶圓用notch,用Notch 比平邊好,為啥6寸還是用平邊”這個問題時,我們可以從晶圓制造、工藝要求、歷史原因和設(shè)備兼容性等多個角度進行分析。
1. 晶圓尺寸與歷史背景
歷史原因:在半導體行業(yè)的發(fā)展過程中,晶圓尺寸從2寸逐步增加到現(xiàn)在的12寸。在早期的4寸和6寸晶圓上,平邊(flat edge)設(shè)計較為常見。這是因為當時的技術(shù)工藝和設(shè)備對晶圓定位和對準的要求較低,使用平邊可以較好地滿足這些需求。
2. Notch vs. 平邊的優(yōu)勢比較
Notch的優(yōu)勢:
自動化程度:隨著晶圓尺寸的增加,工藝復雜度提升,需要更高的精度和自動化程度。Notch可以提供更高的對準精度,有助于晶圓的自動化處理和對準。
空間利用率:Notch占用的空間比平邊小,晶圓的使用面積更大,提高了材料利用率。
對稱性:Notch的對稱性更好,減少了由于晶圓取向?qū)е碌钠?,有助于提高工藝的一致性和產(chǎn)品良率。
3. 6寸晶圓為何仍然使用平邊
設(shè)備兼容性:很多6寸晶圓生產(chǎn)線和設(shè)備是在平邊晶圓時代開發(fā)的。這些設(shè)備對平邊晶圓的兼容性好,切換到Notch需要較大的設(shè)備改造和投資。
成本因素:6寸晶圓主要應(yīng)用于一些成熟工藝節(jié)點或特定領(lǐng)域(如電源器件、MEMS等),這些應(yīng)用對[敏感詞]的工藝要求相對較低。使用平邊晶圓可以避免額外的設(shè)備改造成本和潛在的良率風險。
市場需求:6寸晶圓在某些特定應(yīng)用中仍有穩(wěn)定的需求。這些領(lǐng)域不需要大規(guī)模的更新設(shè)備,因此廠商更愿意繼續(xù)使用傳統(tǒng)的平邊設(shè)計。
4. 工藝需求與設(shè)備改進
工藝流程的相對穩(wěn)定性:對于一些成熟的6寸晶圓工藝來說,已經(jīng)形成了穩(wěn)定的流程和高效的產(chǎn)出,改用Notch帶來的工藝流程變化可能導致不必要的調(diào)整和風險。
產(chǎn)線改造的可行性:盡管Notch有更高的自動化優(yōu)勢,但對現(xiàn)有6寸生產(chǎn)線進行改造可能涉及到設(shè)備、軟件和工藝參數(shù)的全面調(diào)整,這對一些產(chǎn)線而言成本過高且回報不明顯。
5. 總結(jié)
Notch在8寸及以上的晶圓中普及是由于其在工藝一致性、自動化和空間利用率上的優(yōu)勢,但這些優(yōu)勢在6寸晶圓上并沒有體現(xiàn)出足夠的性價比。
6寸晶圓的平邊設(shè)計是歷史沿用的結(jié)果,且由于設(shè)備兼容性、成本考慮和市場需求等原因繼續(xù)沿用至今。Notch雖然更好,但在6寸晶圓場景下的改進效果不足以彌補更換平邊帶來的成本和風險。
6寸晶圓繼續(xù)使用平邊的原因可以歸結(jié)為設(shè)備兼容性、成本控制以及市場需求等多個方面。
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